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VAIS-AMT

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active anti-vibration system

탁상형 능동형 제진대 (VAIS-AMT)

VAIS-AMT는 2007년 국내 최초로 상용화에 성공한 능동형 제진대입니다. 진동외란에 취약한 원자력현미경(AFM)과 같은 나노계측장비를 위해 개발되었습니다.

국제 미진동 환경 기준인 IEST VC-G Class를 만족하는 제진 성능을 갖는 VAIS-AMT는 다양한 나노계측장비 제조사의 엄격한 성능 검증을 완료해 신뢰성을 확보하였습니다.

구조적 공진 문제를 효과적으로 제거하고, 압축공기 공급장치 없이 간편하게 설치 및 운용할 수 있도록 설계되어 사용 편의성과 안정성을 모두 충족시킵니다.

수동형 제진대 대비 성능은 물론 가격 경쟁력도 갖추고 있어, 성능과 경제성을 모두 고려한 합리적인 제진 솔루션입니다.

Specifications

1. 간편한 설치 및 이동

금속 스프링 지지방식을 적용하여 별도의 압축공기 공급장치 없이도 전원만 연결하면 어디서든 쉽게 이동/설치할 수 있습니다.

2. 우수한 저주파 진동 차단

피드백 제어와 함께 피드포워드 제어 기술을 적용하여 10Hz 이하의 저주파 진동까지 효과적으로 차단합니다.

3. 직관적 상태 확인

전면 LED를 통하여 주변 진동 상태 및 제품 이상 유무를 직관적으로 확인할 수 있습니다.

4. 쉬운 현장 대응

디지털 제어 방식을 통해 사용자가 간단한 문제를 현장에서 직접 해결할 수 있습니다.

5. 원격 제어 지원

엔지니어의 방문 없이도 제어 변수 조정과 상태 진단이 가능한 원격 제어 기능을 제공합니다.

모델명 AMT-045 AMT-056
규격 [mm] 396(W) X 496(L) X 110(H) 496(W) X 596(L) X 110(H)
제품무게 23 kg 37 kg
탑재하중 0 ~ 60 kg 0 ~ 150 kg
모델명 AMT-067 AMT-078
규격 [mm] 596(W) X 696(L) X 120(H) 696(W) X 796(L) X 120(H)
제품무게 56 kg 85 kg
탑재하중 0 ~ 200 kg 0 ~ 300 kg

※ 요청에 따라 변경된 규격으로 제작이 가능합니다.

도면 확인하기

Applications (클릭하면 확대됩니다)

Scanning Probe Microscopy
Application 1

BRUKER / Multimode8

Application 2

BRUKER / Innova-SPM

Application 3

BRUKER / BioAFM

Application 4

BRUKER / Dimension Icon

Application 5

Oxford-Witec / Alpha 300

Application 6

Oxford / Cypher

Electron Microscopy
Application 9

Thermo Fisher / Phenom ProX

Application 10

Thermo Fisher / Phenom XL

Application 11

Thermo Fisher / Phenom Pharos

Application 12

COXEM / EM30 series

Application 13

COXEM / CX series

Optical Metrology / Nano Property
Application 12

Olympus / OLS 5100

Application 13

Olympus / OLS 4100

Application 14

Olympus / OLS 5100 LAF

Application 15

Olympus / Inverted Microscope

Application 16

Nanosystem / NV series

Application 17

Zeiss / Digital Microscope

Application 20

Keyence / 3D measurement

Application 21

Keyence / Laser Microscope

Application 22

Interferometer

Application 23

KLA / Nano Indentation

Application 24

Probe station