ACTIVE VIBRATION CONTROL
탁상형 능동형 제진대 (VAIS-AMT)
VAIS-AMT는 2007년 국내 최초로 상용화에 성공한 능동형 제진대입니다. 진동 외란에 취약한 원자력현미경(AFM)과 같은 나노 계측 장비를 위해 개발되었습니다.
국제 미진동 환경 기준인 IEST VC-G Class를 만족하는 제진 성능을 갖는 VAIS-AMT는 다양한 나노 계측 장비 제조사의 엄격한 성능 검증을 완료해 신뢰성을 확보하였습니다.
구조적 공진 문제를 효과적으로 제거하고, 압축공기 공급장치 없이 간편하게 설치 및 운용할 수 있도록 설계되어 사용 편의성과 안정성을 모두 충족합니다.
수동형 제진대 대비 우수한 성능과 가격 경쟁력을 갖추고 있어, 성능과 경제성을 모두 고려한 합리적인 제진 솔루션입니다.
01 / SPECIFICATIONS
Specifications
1. 간편한 설치 및 이동
금속 스프링 지지 방식을 적용하여 별도의 압축공기 공급장치 없이도 전원만 연결하면 어디서든 쉽게 이동하고 설치할 수 있습니다.
2. 우수한 저주파 진동 차단
피드백 제어와 함께 피드포워드 제어 기술을 적용하여 10 Hz 이하의 저주파 진동까지 효과적으로 차단합니다.
3. 직관적 상태 확인
전면 LED를 통하여 주변 진동 상태 및 제품 이상 유무를 직관적으로 확인할 수 있습니다.
4. 쉬운 현장 대응
디지털 제어 방식을 통해 사용자가 간단한 문제를 현장에서 직접 해결할 수 있습니다.
5. 원격 제어 지원
엔지니어의 방문 없이도 제어 변수 조정과 상태 진단이 가능한 원격 제어 기능을 제공합니다.
| 모델명 | AMT-045 | AMT-056 |
|---|---|---|
| 규격 [mm] | 396 (W) × 496 (L) × 110 (H) | 496 (W) × 596 (L) × 110 (H) |
| 제품 무게 | 23 kg | 37 kg |
| 탑재 하중 | 0–60 kg | 0–150 kg |
| 모델명 | AMT-067 | AMT-078 |
| 규격 [mm] | 596 (W) × 696 (L) × 120 (H) | 696 (W) × 796 (L) × 125 (H) |
| 제품 무게 | 56 kg | 85 kg |
| 탑재 하중 | 0–200 kg | 0–300 kg |
※ 요청 사양에 맞춰 규격을 변경해 제작할 수 있습니다.
02 / APPLICATIONS
적용 사례
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Scanning Probe Microscopy
BRUKER / Multimode8
BRUKER / Innova-SPM
BRUKER / BioAFM
BRUKER / Dimension Icon
Oxford-Witec / Alpha 300
Oxford / Cypher
Electron Microscopy
Thermo Fisher / Phenom ProX
Thermo Fisher / Phenom XL
Thermo Fisher / Phenom Pharos
COXEM / EM30 series
COXEM / CX series
Optical Metrology / Nano Property
Olympus / OLS 5100
Olympus / OLS 4100
Olympus / OLS 5100 LAF
Olympus / Inverted Microscope
Nanosystem / NV series
Zeiss / Digital Microscope
Keyence / 3D measurement
Keyence / Laser Microscope
Interferometer
KLA / Nano Indentation
Probe station
